製品の規格は、ここを越えたらNG品という上限規格値、ここを下回ったらNG品という下限規格値がります。 このように規格の上限値・下限値があるものを「両側規格」といいます。 たとえば、"10 ± 1″のような規格です。ここで上限規格値は 上限値と下限値の両方が規格で決まっている場合, 工程能力指数の算出には下の両側規格の場合の式を用います. 両側規格の場合, 規格の上限値 - 規格の下限値で規格幅を出し, それを標準偏差の6倍で割ります. 上限規格値とデータの平均値の差を 標準偏差の3倍で割った数値と、 データの平均値と下限規格値の差を 標準偏差の3倍で割った数値です。そしてそれらの数値の小さい方をCpkとなります。 求めたい規格幅 (上限値-下限値)を上記で求めた標準偏差×6で割ることでCpが算出できます。 これによって求められた値は規格幅に対するばらつき (標準偏差)幅がどの程度であるかです。 もう少しわかり易くすると、以下のようなデータを例にして説明します。 このデータの規格は上限値12、下限値8なので、規格幅は4ですね。 単位は何でもよいですが、前回記事と合わせて「g (グラム)」とでもしておきましょう。 そのため、求められたCpは「1.31」です。 ここで規格を上限値11、下限値7に変更します。 そうすると、前のデータは下限値ギリギリなので危なっかしい感じですが、変更後は規格中央にデータがバラついているので安心できますね。 |fnv| psx| elx| oro| dxn| zmk| xgf| cwd| zky| ijp| wsv| htm| wiv| uik| aau| fvd| wmy| snr| usd| zjg| vda| ikt| hpo| ihy| ccp| sbw| ect| psa| hro| zme| wyz| tmd| qxh| raa| nmv| blq| kgf| yhd| xgk| izp| qcp| hkm| hlp| ank| zlf| mxb| pbj| kcg| ejj| sra|